T-SCAN:使用接觸式探針進(jìn)行單點測量
[原創(chuàng)內(nèi)容]
發(fā)布于：2022-08-31 10:04:27
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想知道如何掃描被光學(xué)跟蹤器隱藏的區(qū)域？在本期視頻中，David將教您借助T-POINT接觸式探針擴展測量范圍。您可以邊旋轉(zhuǎn)零件邊掃描，對所有位置上的相同特征（例如孔）進(jìn)行探測，并將其作為參考點。
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